Dosya:Stem1.JPG
Bu önizlemenin boyutu: 446 × 600 piksel. Diğer çözünürlükler: 178 × 240 piksel | 357 × 480 piksel | 571 × 768 piksel | 1.072 × 1.442 piksel.
Tam çözünürlük ((1.072 × 1.442 piksel, dosya boyutu: 345 KB, MIME tipi: image/jpeg))
 | Bu dosya Wikimedia Commons'ta bulunmaktadır. Dosyanın açıklaması aşağıda gösterilmiştir. Commons, serbest/özgür telifli medya dosyalarının bulundurulduğu depodur. Siz de yardım edebilirsiniz. |
Özet
| Açıklama |
English: Scanning transmission electron microscope (200 kV Jeol prototype) equipped with a 3rd-order spherical aberration corrector. |
| Tarih | uploaded 05:42, 17 November 2009 (UTC), photo taken several years earlier |
| Kaynak | Yükleyenin kendi çalışması (transfer from en.wiki) |
| Yazar | Materialscientist |
Lisanslama
Ben, bu işin telif sahibi, burada işi aşağıdaki lisanslar altında yayımlıyorum:
Bu dosya, Creative Commons Atıf-Benzer Paylaşım 3.0 Taşınmamış lisansı ile lisanslanmıştır
- Şu seçeneklerde özgürsünüz:
- paylaşım – eser paylaşımı, dağıtımı ve iletimi
- içeriği değiştirip uyarlama – eser adaptasyonu
- Aşağıdaki koşullar geçerli olacaktır:
- atıf – Esere yazar veya lisans sahibi tarafından belirtilen (ancak sizi ya da eseri kullanımınızı desteklediklerini ileri sürmeyecek bir) şekilde atıfta bulunmalısınız.
- benzer paylaşım – Maddeyi yeniden düzenler, dönüştürür veya inşa ederseniz, katkılarınızı özgünüyle aynı veya uyumlu lisans altında dağıtmanız gerekir.
|
Bu belgenin GNU Özgür Belgeleme Lisansı, Sürüm 1.2 veya Özgür Yazılım Vakfı tarafından yayımlanan sonraki herhangi bir sürüm şartları altında bu belgenin kopyalanması, dağıtılması ve/veya değiştirilmesi için izin verilmiştir;
Değişmeyen Bölümler, Ön Kapak Metinleri ve Arka Kapak Metinleri yoktur. Lisansın bir kopyası GNU Özgür Belgeleme Lisansı sayfasında yer almaktadır. |
İstediğiniz lisansı seçebilirsiniz.
Dosya geçmişi
Dosyanın herhangi bir zamandaki hâli için ilgili tarih/saat kısmına tıklayın.
| Tarih/Saat | Küçük resim | Boyutlar | Kullanıcı | Yorum | |
|---|---|---|---|---|---|
| güncel | 09.18, 12 Eylül 2011 | | 1.072 × 1.442 (345 KB) | Materialscientist | {{Information |Description ={{en|1=Scanning transmission electron microscope (200 kV Jeol prototype) equipped with a 3rd-order spherical aberration corrector.}} |Source ={{own}} (transfer from en.wiki) |Author =[[User:Materialscientist| |
Dosya kullanımı
Bu görüntü dosyasına bağlantısı olan sayfalar:
Küresel dosya kullanımı
Aşağıdaki diğer vikiler bu dosyayı kullanmaktadır:
- ar.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- ca.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- en.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- es.wikibooks.org üzerinde kullanımı
- et.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- fa.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- gl.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- hr.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- hu.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- ru.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- sh.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- uk.wikipedia.org üzerinde kullanımı
- www.wikidata.org üzerinde kullanımı
- zh.wikipedia.org üzerinde kullanımı
