Dosya:AFMsetup.jpg - Vikipedi
İçeriğe atla
Ana menü
Gezinti
  • Anasayfa
  • Hakkımızda
  • İçindekiler
  • Rastgele madde
  • Seçkin içerik
  • Yakınımdakiler
Katılım
  • Deneme tahtası
  • Köy çeşmesi
  • Son değişiklikler
  • Dosya yükle
  • Topluluk portalı
  • Wikimedia dükkânı
  • Yardım
  • Özel sayfalar
Vikipedi Özgür Ansiklopedi
Ara
  • Bağış yapın
  • Hesap oluştur
  • Oturum aç
  • Bağış yapın
  • Hesap oluştur
  • Oturum aç

Dosya:AFMsetup.jpg

Sayfa içeriği diğer dillerde desteklenmemektedir.
  • Dosya
  • Tartışma
  • Oku
  • Wikimedia Commons üzerinde gör
  • Yerel açıklama ekle
  • Yerel açıklama kaynağı ekle
Araçlar
Eylemler
  • Oku
  • Wikimedia Commons üzerinde gör
  • Yerel açıklama ekle
  • Yerel açıklama kaynağı ekle
Genel
  • Sayfaya bağlantılar
  • Basılmaya uygun görünüm
  • Sayfa bilgisi
  • Kısaltılmış URL'yi al
  • Karekodu indir
Diğer projelerde
Görünüm
Vikipedi, özgür ansiklopedi
  • Dosya
  • Dosya geçmişi
  • Dosya kullanımı
  • Küresel dosya kullanımı
Dosya:AFMsetup.jpg
Daha yüksek çözünürlüğe sahip sürüm bulunmamaktadır.
AFMsetup.jpg ((721 × 569 piksel, dosya boyutu: 86 KB, MIME tipi: image/jpeg))
Bu dosya Wikimedia Commons'ta bulunmaktadır. Dosyanın açıklaması aşağıda gösterilmiştir.
Commons, serbest/özgür telifli medya dosyalarının bulundurulduğu depodur. Siz de yardım edebilirsiniz.
Bu dosya Wikimedia Commons'ta bulunmaktadır.

Özet

AçıklamaAFMsetup.jpg
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
Tarih 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
Kaynak

http://kristian.molhave.dk

  • This illustration was made for the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology
  • The image also appears on the Commons/nanotechnology page
Yazar yashvant
İzin
(Bu dosyanın tekrar kullanımı)
CC-BY-2.5, please acknowledge the Opensource Handbook of Nanoscience and Nanotechnology if you use this illustration!
File:AFM schematic (EN).svg, bu dosyanın vektör versiyonudur. Aşağı olmadığında bu raster görüntünün yerine kullanılmalıdır.

File:AFMsetup.jpg → File:AFM schematic (EN).svg

Daha fazla bilgi için Help:SVG/tr sayfasına bakın.

Diğer dillerde
Alemannisch ∙ العربية ∙ беларуская (тарашкевіца) ∙ български ∙ বাংলা ∙ català ∙ нохчийн ∙ čeština ∙ dansk ∙ Deutsch ∙ Ελληνικά ∙ English ∙ British English ∙ Esperanto ∙ español ∙ eesti ∙ euskara ∙ فارسی ∙ suomi ∙ français ∙ Frysk ∙ galego ∙ Alemannisch ∙ עברית ∙ हिन्दी ∙ hrvatski ∙ magyar ∙ հայերեն ∙ Bahasa Indonesia ∙ Ido ∙ italiano ∙ 日本語 ∙ ქართული ∙ 한국어 ∙ lietuvių ∙ македонски ∙ മലയാളം ∙ Bahasa Melayu ∙ မြန်မာဘာသာ ∙ norsk bokmål ∙ Plattdüütsch ∙ Nederlands ∙ norsk nynorsk ∙ norsk ∙ occitan ∙ polski ∙ prūsiskan ∙ português ∙ português do Brasil ∙ română ∙ русский ∙ sicilianu ∙ Scots ∙ slovenčina ∙ slovenščina ∙ српски / srpski ∙ svenska ∙ தமிழ் ∙ ไทย ∙ Türkçe ∙ татарча / tatarça ∙ українська ∙ vèneto ∙ Tiếng Việt ∙ 中文 ∙ 中文(中国大陆) ∙ 中文(简体) ∙ 中文(繁體) ∙ 中文(马来西亚) ∙ 中文(新加坡) ∙ 中文(臺灣) ∙ +/−
Yeni SVG resmi

 

Lisanslama

w:tr:Creative Commons
atıf
Bu dosya, Creative Commons Atıf 2.5 Genel lisansı ile lisanslanmıştır
Şu seçeneklerde özgürsünüz:
  • paylaşım – eser paylaşımı, dağıtımı ve iletimi
  • içeriği değiştirip uyarlama – eser adaptasyonu
Aşağıdaki koşullar geçerli olacaktır:
  • atıf – Esere yazar veya lisans sahibi tarafından belirtilen (ancak sizi ya da eseri kullanımınızı desteklediklerini ileri sürmeyecek bir) şekilde atıfta bulunmalısınız.
https://creativecommons.org/licenses/by/2.5CC BY 2.5 Creative Commons Attribution 2.5 truetrue

Altyazılar

Bu dosyanın temsil ettiği şeyin tek satırlık açıklamasını ekleyin.

Bu dosyada gösterilen öğeler

betimlenen

telif hakkı durumu

telif hakkı alınmış

telif hakkı lisansı

Creative Commons Attribution 2.5 Generic İngilizce

ortam türü

image/jpeg

sağlama toplamı

e554ced62e546be1eaba9097f6f6078f0da81eca

tespit yöntemi: SHA-1

dosya boyutu

88.071 bayt

boyu

569 piksel

genişliği

721 piksel

Dosya geçmişi

Dosyanın herhangi bir zamandaki hâli için ilgili tarih/saat kısmına tıklayın.

Tarih/SaatKüçük resimBoyutlarKullanıcıYorum
güncel14.10, 21 Kasım 200614.10, 21 Kasım 2006 tarihindeki sürümün küçültülmüş hâli721 × 569 (86 KB)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

Dosya kullanımı

Bu görüntü dosyasına bağlantısı olan sayfalar:

  • Nanoteknoloji

Küresel dosya kullanımı

Aşağıdaki diğer vikiler bu dosyayı kullanmaktadır:

  • ast.wikipedia.org üzerinde kullanımı
    • Nanoteunoloxía
  • bg.wikipedia.org üzerinde kullanımı
    • Нанотехнология
  • bs.wikipedia.org üzerinde kullanımı
    • Nanotehnologija
  • ca.wikipedia.org üzerinde kullanımı
    • Nanotecnologia
  • da.wikipedia.org üzerinde kullanımı
    • Atomar kraftmikroskopi
    • Scanning-tunnelmikroskopi
    • Scanning-sondemikroskopi
    • Skabelon:Scanning-sondemikroskopi
  • en.wikipedia.org üzerinde kullanımı
    • Microscope
    • Nanotechnology
    • Scanning tunneling microscope
    • Atomic force microscopy
    • Scanning probe microscopy
    • Scanning voltage microscopy
    • Millipede memory
    • Electrochemical scanning tunneling microscope
    • Dip-pen nanolithography
    • Magnetic force microscope
    • Kelvin probe force microscope
    • Near-field scanning optical microscope
    • Scanning gate microscopy
    • Magnetic resonance force microscopy
    • Electrostatic force microscope
    • Scanning ion-conductance microscopy
    • Scanning probe lithography
    • Spin-polarized scanning tunneling microscopy
    • Feature-oriented scanning
    • Feature-oriented positioning
    • Counter-scanning
    • User:Antony-22/Navboxes
    • Template:Scanning probe microscopy
    • Scanning capacitance microscopy
    • Scanning Hall probe microscope
    • Photothermal microspectroscopy
    • Ballistic electron emission microscopy
    • User:Bci2
    • Chemical force microscopy
    • Scanning SQUID microscopy
    • Scanning thermal microscopy
    • User:Bci2/Books/Wk1Book
    • User:Bci2/Books/Wk2Book
    • User:Bci2/Books/Wk3vol1
    • User:Bci2/Books/Wk4
    • Local oxidation nanolithography
    • Conductive atomic force microscopy
    • Piezoresponse force microscopy
    • Scanning joule expansion microscopy
    • User:GERphysicist/Synchrotron x-ray scanning tunneling microscopy
    • Photoconductive atomic force microscopy
    • Vibrational analysis with scanning probe microscopy

Bu dosyanın daha fazla küresel kullanımını görüntüle.

"https://tr.wikipedia.org/wiki/Dosya:AFMsetup.jpg" sayfasından alınmıştır
  • Gizlilik politikası
  • Vikipedi hakkında
  • Sorumluluk reddi
  • Davranış Kuralları
  • Geliştiriciler
  • İstatistikler
  • Çerez politikası
  • Mobil görünüm
  • Wikimedia Foundation
  • Powered by MediaWiki
Dosya:AFMsetup.jpg
Konu ekle